デバイスの動作・不良解析をはじめ、
シミュレーション用パターンデータの
デバッグから実機検証までをデスクトップで実現。

 
LSIやLSI実装基板などの動作検証・不良解析を行うことができます。オンザフライ機能で入出力信号のリアルタイム切り替えを実現し、入出力混成信号をもつLSIの動作・不良解析も可能です。
 

 
設計ツールで作成したシミュレーションデータをパターンデータとして使用することができます。LSIの出力データとパターンデータ信号の出力に差異がある場合、差異のある場所を画面上に表示することで、設計者が容易に異常を把握できるテスタ機能を有します。
 
 
16チャネルそれぞれがメモリ機能を有しているので各チャネルの信号を1クロック単位で記録して解析が可能です。
 

  ホールド機能を使うことで、パターンデータを変更することなく、特定の箇所に待ち時間を設定することができ、アナログ信号の過渡特性を検証することができます。  


 
パターンデータの編集機能を搭載しています。動作・不良解析中に見つかったパターンデータの不備をその場で修正することができます。また、クロック数やストローブの変更も可能です。
 

 
本機のトリガ出力端子にオシロスコープを接続することで任意タイミングのアナログ/デジタル波形をチェックできます。
 
Logic SMART Testerを実際に使用している様子の動画を用意しています。
↓映像を見る場合はこちらをどうぞ。↓

■デモムービー■